：针对传统数字电子技术实验项目在学生设计与实现过程中容易出现故障,对经常出现的问题进行提炼总结,提出TTL电平反推法,根据输出的实验现象一步一步向前反推,找出对应的原状态的致使条件,对的保留,不对的继续反推前一级,找出错误的根源。通过教学实践,学生可以具备自行解决数电实验项目中常出现问题的能力,证明TTL电平反推排错法在数电实验教学应用中具有可实施性。 下面提炼3个常见错误。图1数电实验箱芯片工作电压极性接反。（2）使用多个芯片时，有遗漏芯片没有外加工作电压。（3）芯片逻辑功能使用前没有测试好坏。学生使用芯片要对准其管脚图，本文有公司网站全自动倒角机采集转载中国知网整理，http://www.daojiaoj.com  找到对应的电源管脚VCC和接地管脚GND，外加工作电压一一对应连接，使用多个芯片时，确保使用的每一个芯片都要外加工作电压，这里可以运用电路等电位点原理把对应芯片的电源管脚VCC串连在一起引出一根导线到电源正极，接地管脚GND亦是如此引出一根线到电源负极。具体见图2所示，这样可以有效避免漏接现象。此外芯片逻辑功能测试主要按照对应的门电路真值表进行测试。每一块芯片上实现同一个逻辑功能的门电路至少集成2个以上，每次实验时根据需求，用到就对其进行测试。图2等电位点接线示例图TL电平反推排错法原理TTL电平反推排错法主要根据实践电路的最终输出现象对与否进行应用，电路输出现象观察主要是依据LED灯显示或者数码管显示。因为数电实验内容的输出现象有多个状态，只要有一种状态不对，整个搭建的电路设计就存在某些问题。TTL电平反推排除法以当前错误的输出状态为切入点，找出对应门电路的输出端口，如果要求的输出为高电平，LED灯要点亮，这里使用万用表20V直流档位检测该门电路的输出对应的输入端口的电平高低，利用反推思路测试当前门电路的逻辑功能，首先验证在当前输入电平的状态下，输出状态对与否，对表明此部分芯片的门电路没有问题，不对表明该门电路需要更换，在门电路没有问题的情况下，需要找出该门电路输出端对应的输入致使其输出为低电平的端口，这些输入端口有的是前级门电路的输出，有的是逻辑电平开本文有公司网站全自动倒角机采集转载中国知网整理，http://www.daojiaoj.com